原始資料介紹 - AOI晶圓瑕疵分類 on Strikingly

人工智慧共創平台 - AOI晶圓瑕疵分類
AIdea 係由經濟部技術處科技專案⽀持，委由⼯研院巨量資訊科技中⼼(巨資中⼼)與⼯研院產業科技國際策略發展所(產科所，ISTI)共同開發執⾏之⼈⼯智慧共創平台。主要宗旨是希望透過此平台的共創機制，提供產業的問題與資料，匯集產學界分析能量，有效鏈結產學研合作，快速建立整體應⽤的解決⽅案。AIdea 已累積許多國內獨特的產業議題、產業資料與 AI ⼈才，提供⼀個聚集議題庫、資料集、⼈才庫的共創園地，透過跨領域的合作，活絡台灣 AI 應⽤，共創產業價值。
資料來源&介紹

•train_images.zip：訓練所需的影像資料（PNG格式），共計 2,528 張。
•train.csv：包含 2 個欄位，ID 和 Label。
•ID：影像的檔名。
•Label：瑕疵分類類別（0 表示 normal，1 表示 void，2 表示 horizontal defect，3 表示 vertical defect，4表示 edge defect，5 表示 particle）。
•test_images.zip：測試所需的影像資料（PNG格式），共計 10,142 張。
•test.csv：包含 2 個欄位，ID 和 Label。
•ID：影像的檔名。
•Label：瑕疵分類類別（其值只能是下列其中之一：0、1、2、3、4、5）。

若想了解更多可以到比賽資料網站觀看
https://aidea-web.tw/topic/285ef3be-44eb-43dd-85cc-f0388bf85ea4
圖片介紹
Label 0
表示 normal，但有分成以下兩類，有顆粒小的，也有顆粒大的。
Label 1
表示 void、有白色跟黑色的圓、不規則形狀、邊緣的圖案、曝光、兩個圓、normal，是最複雜的一類。
Label 2
表示 horizontal defect ，為水平缺陷，可以看到中間的線從左圖到右圖的明顯度不一樣，用上下亮度的差異去捕捉相對容易，橫的一半是因為線的位置大多都在中間。
Label 3
表示 vertical defect，為垂直缺陷，大多為直條狀的缺陷，有黑色也有白色，且有些不只一條。
Label 4
表示 edge defect，為邊緣缺陷，大多主要是邊邊的缺陷有可能左邊比較深也有可能右邊比較深
Label 5
表示 particle，微粒缺陷，圖片很像是經過放大又或是用高倍顯微鏡所拍出來的，會曝光、模糊，大多數中間都會有黑點，其黑點都不一樣。

AOI 晶圓瑕疵分類

人工智慧共創平台 - AOI晶圓瑕疵分類

資料來源&介紹

圖片介紹

Label 0

表示 normal，但有分成以下兩類，有顆粒小的，也有顆粒大的。

Label 1

表示 void、有白色跟黑色的圓、不規則形狀、邊緣的圖案、曝光、兩個圓、normal，是最複雜的一類。​

Label 2

表示 horizontal defect ，為水平缺陷，可以看到中間的線從左圖到右圖的明顯度不一樣，用上下亮度的差異去捕捉相對容易，橫的一半是因為線的位置大多都在中間。

Label 3

表示 vertical defect，為垂直缺陷，大多為直條狀的缺陷，有黑色也有白色，且有些不只一條。

Label 4

表示 edge defect，為邊緣缺陷，大多主要是邊邊的缺陷有可能 左邊比較深 也有可能右邊比較深

Label 5

表示 particle，微粒缺陷，圖片很像是經過放大又或是用高倍顯微鏡所拍出來的，會曝光、模糊，大多數中間都會有黑點，其黑點都不一樣。

表示 void、有白色跟黑色的圓、不規則形狀、邊緣的圖案、曝光、兩個圓、normal，是最複雜的一類。

表示 edge defect，為邊緣缺陷，大多主要是邊邊的缺陷有可能左邊比較深也有可能右邊比較深